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Defects in nanocrystalline Nb films: Effect of sputtering temperature

Čížek, J.; Melikhova, O.; Procházka, I.; Brauer, G.; Anwand, W.; Mücklich, A.; Kirchheim, R.; Pundt, A.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.apsusc.2005.08.083
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Zitationen: 3
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Zitationen: 2
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 02.2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332
KITopen-ID: 1000084573
Erschienen in Applied surface science
Verlag Elsevier
Band 252
Heft 9
Seiten 3245–3251
Nachgewiesen in Web of Science
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