Study of Hydrogen-Defect Interaction in Thin Nb Film on Si Substrate Using Positron Annihilation
Čížek, J.; Procházka, I.; Brauer, G.; Anwand, W.; Mücklich, A.; Kirchheim, R.; Pundt, A.; Bähtz, C.; Knapp, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1211-5894 KITopen-ID: 1000084576 |
| Erschienen in | Materials Structure |
| Verlag | CSCA |
| Band | 13 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 82-89 |