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Defect studies of hydrogen-loaded nanocrystalline Gd films

Cizek, J.; Prochazka, I.; Vlach, M.; Zaludova, N.; Danis, S.; Brauer, G.; Anwand, W.; Mücklich, A.; Gemma, R.; Kirchheim, R.; Pundt, A.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.apsusc.2008.05.188
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Zitationen: 4
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332
KITopen-ID: 1000084679
Erschienen in Applied surface science
Verlag Elsevier
Band 255
Heft 1
Seiten 251–253
Nachgewiesen in Dimensions
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