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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.apsusc.2008.05.188
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Defect studies of hydrogen-loaded nanocrystalline Gd films

Cizek, J.; Prochazka, I.; Vlach, M.; Zaludova, N.; Danis, S.; Brauer, G.; Anwand, W.; Mücklich, A.; Gemma, R.; Kirchheim, R.; Pundt, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332
KITopen ID: 1000084679
Erschienen in Applied surface science
Band 255
Heft 1
Seiten 251–253
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