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APT analyses of deuterium-loaded Fe/V multi-layered films

Gemma, R.; Al-Kassab, T.; Kirchheim, R.; Pundt, A.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2008.11.005
Scopus
Zitationen: 20
Web of Science
Zitationen: 17
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000084680
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 109
Heft 5
Seiten 631–636
Nachgewiesen in Web of Science
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