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APT analyses of deuterium-loaded Fe/V multi-layered films

Gemma, R.; Al-Kassab, T.; Kirchheim, R.; Pundt, A.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2008.11.005
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Zitationen: 31
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Zitationen: 28
Dimensions
Zitationen: 37
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 04.2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000084680
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 109
Heft 5
Seiten 631–636
Nachgewiesen in Scopus
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