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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.actamat.2013.12.034
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Stress release and defect occurrence in V1−xFex films upon hydrogen loading: H-induced superabundant vacancies, movement and creation of dislocations

Gemma, R.; Dobron, P.; Cizek, J.; Pundt, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1359-6454
KITopen ID: 1000084751
Erschienen in Acta materialia
Band 67
Seiten 308–323
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