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Stress release and defect occurrence in V1−xFex films upon hydrogen loading: H-induced superabundant vacancies, movement and creation of dislocations

Gemma, R.; Dobron, P.; Cizek, J.; Pundt, A.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.actamat.2013.12.034
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Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 04.2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1359-6454
KITopen-ID: 1000084751
Erschienen in Acta materialia
Verlag Elsevier
Band 67
Seiten 308–323
Nachgewiesen in Dimensions
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