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Quantitative characterization of surface topography using spectral analysis

Jacobs, Tevis D. B.; Junge, Till 1; Pastewka, Lars 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/2051-672X/aa51f8
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Zitationen: 219
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Zitationen: 205
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Zitationen: 233
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2051-672X
KITopen-ID: 1000084889
Erschienen in Surface topography
Verlag IOP Publishing
Band 5
Heft 1
Seiten 013001
Vorab online veröffentlicht am 27.01.2017
Nachgewiesen in Dimensions
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