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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/2051-672X/aa51f8
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Quantitative characterization of surface topography using spectral analysis

Jacobs, Tevis D. B.; Junge, Till; Pastewka, Lars



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2051-672X
KITopen ID: 1000084889
Erschienen in Surface topography
Band 5
Heft 1
Seiten 013001
Vorab online veröffentlicht am 27.01.2017
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