Quantitative characterization of surface topography using spectral analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2051-672X KITopen-ID: 1000084889 |
| Erschienen in | Surface topography |
| Verlag | IOP Publishing |
| Band | 5 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 013001 |
| Vorab online veröffentlicht am | 27.01.2017 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |