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Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/GEMIC.2018.8335054

Crosstalk analysis and correction in on-wafer measurements at WR-3 band frequencies

Muller, D.; Boes, F.; Tessmann, A.; Leuther, A.; Zwick, T.; Kallfass, I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9812668-8-7
KITopen ID: 1000084930
Erschienen in 2018 German Microwave Conference (GeMiC), Freiburg, Germany, 12–14 March 2018
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 160–163
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