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Crosstalk analysis and correction in on-wafer measurements at WR-3 band frequencies

Muller, D. 1; Boes, F. 1; Tessmann, A.; Leuther, A.; Zwick, T. 1; Kallfass, I.
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/GEMIC.2018.8335054
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Zitationen: 2
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9812668-8-7
KITopen-ID: 1000084930
Erschienen in 2018 German Microwave Conference (GeMiC), Freiburg, Germany, 12–14 March 2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 160–163
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