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Optical Characterization of an X-ray Zoom Lens

Kornemann, Elisa; Márkus, Ottó; Opolka, Alexander; Sawhney, Kawal; Cecilia, Angelica; Hurst, Mathias; Baumbach, Tilo; Last, Arndt; Mohr, Jürgen

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927618013685
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000085293
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01)
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 24
Heft S2
Seiten 270–271
Vorab online veröffentlicht am 10.08.2018
Schlagworte 2017-017-017049 EBL XRL
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