Optical Characterization of an X-ray Zoom Lens
Kornemann, Elisa; Márkus, Ottó; Opolka, Alexander
; Sawhney, Kawal; Cecilia, Angelica; Hurst, Mathias
; Baumbach, Tilo; Last, Arndt; Mohr, Jürgen
; Sawhney, Kawal; Cecilia, Angelica; Hurst, Mathias
; Baumbach, Tilo; Last, Arndt; Mohr, Jürgen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 08.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 1000085293 |
| HGF-Programm | 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 24 |
| Heft | S2 |
| Seiten | 270–271 |
| Vorab online veröffentlicht am | 10.08.2018 |
| Schlagwörter | 2017-017-017049 EBL XRL |
| Nachgewiesen in | Dimensions |