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Spectroscopic characterization of lithium thiophosphates by XPS and XAS-a model to help monitor interfacial reactions in all-solid-state batteries

Dietrich, C.; Koerver, R.; Gaultois, M. W.; Kieslich, G.; Cibin, G.; Janek, J.; Zeier, W. G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1463-9076, 1463-9084
KITopen ID: 1000085382
HGF-Programm 37.01.01; LK 01
Erschienen in Physical chemistry, chemical physics
Band 20
Heft 30
Seiten 20088-20095
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