Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Organische Chemie (IOC) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-8325-4740-0 KITopen-ID: 1000085661 |
| Verlag | Logos Verlag Berlin |
| Umfang | 133 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Chemie und Biowissenschaften (CHEM-BIO) |
| Institut | Institut für Organische Chemie (IOC) |
| Prüfungsdatum | 16.04.2018 |
| Referent/Betreuer | Ehrenberg, H. |