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Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung

Moock, Dominique



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Organische Chemie (IOC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2018
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8325-4740-0
KITopen ID: 1000085661
Verlag Logos Verlag, Berlin
Umfang 133 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Chemie und Biowissenschaften (CHEM-BIO)
Institut Institut für Organische Chemie (IOC)
Prüfungsdatum 16.04.2018
Referent/Betreuer Prof. H. Ehrenberg
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