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Originalveröffentlichung
DOI: 10.21741/9781945291890-7

In-Situ Synchrotron X-Ray Diffraction Studies in the Chip Formation Zone During Orthogonal Metal Cutting

Gibmeier, J.; Kiefer, D.; Hofsaess, R.; Schell, N.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-945291-88-3
ISSN: 2474-395X
KITopen ID: 1000085849
Erschienen in Residual Stresses, 11. September 2018. Ed.: M. Seefeldt
Verlag Materials Research Forum LLC, Millersville (PA)
Seiten 39–44
Serie Materials Research Proceedings ; 6
Vorab online veröffentlicht am 11.09.2018
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