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Microstructure evolution and deformation mechanisms during high rate and cryogenic sliding of copper

Chen, Xiang; Schneider, Reinhard; Gumbsch, Peter; Greiner, Christian



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seit 07.10.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1359-6454, 1873-2453
KITopen-ID: 1000086227
Erschienen in Acta materialia
Band 161
Seiten 138-149
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