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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-319-92108-2_25

Yeah, right, uh-huh: A deep learning backchannel predictor

Ruede, R.; Müller, M.; Stüker, S.; Waibel, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-331992107-5
ISSN: 1876-1100
KITopen-ID: 1000086319
Erschienen in 8th International Workshop on Spoken Dialogue Systems, IWSDS 2017; Farmington; United States; 6 June 2017 through 9 June 2017
Verlag Springer, Cham
Seiten 247-258
Serie Lecture Notes in Electrical Engineering ; 510
Nachgewiesen in Scopus
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