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Yeah, right, uh-huh: A deep learning backchannel predictor

Ruede, R. 1; Müller, M. 1; Stüker, S. 1; Waibel, A. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000086319
Veröffentlicht am 03.06.2025
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-319-92108-2_25
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Zitationen: 29
Dimensions
Zitationen: 22
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-331992107-5
ISSN: 1876-1100
KITopen-ID: 1000086319
Erschienen in 8th International Workshop on Spoken Dialogue Systems, IWSDS 2017; Farmington; United States; 6 June 2017 through 9 June 2017
Veranstaltung International Workshop on Spoken Dialogue Systems Technology (IWSDS 2017), Farmington, PA, USA, 06.06.2017 – 09.06.2017
Verlag Springer
Seiten 247-258
Serie Lecture Notes in Electrical Engineering ; 510
Externe Relationen Siehe auch
Nachgewiesen in Dimensions
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Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 4 – Hochwertige Bildung
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