Inspection Planning for Optimized Coverage of Geometrically Complex Surfaces

Mohammadikaji, M. ¹; Bergmann, S. ¹; Irgenfried, S. ¹; Beyerer, J. ¹; Dachsbacher, C. ¹; Worn, H. ¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/METROI4.2018.8428313

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seit 15.10.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR) Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2018
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-5386-2497-5 KITopen-ID: 1000086337
Erschienen in	2018 Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, MetroInd 4.0 and IoT 2018; Brescia; Italy; 16 April 2018 through 18 April 2018
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	52-57
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus