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Inspection Planning for Optimized Coverage of Geometrically Complex Surfaces

Mohammadikaji, M.; Bergmann, S.; Irgenfried, S.; Beyerer, J.; Dachsbacher, C.; Worn, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/METROI4.2018.8428313
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-2497-5
KITopen-ID: 1000086337
Erschienen in 2018 Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, MetroInd 4.0 and IoT 2018; Brescia; Italy; 16 April 2018 through 18 April 2018
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 52-57
Nachgewiesen in Scopus
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