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Inspection Planning for Optimized Coverage of Geometrically Complex Surfaces

Mohammadikaji, M. 1; Bergmann, S. 1; Irgenfried, S. 1; Beyerer, J. 1; Dachsbacher, C. 1; Worn, H. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/METROI4.2018.8428313
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Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-2497-5
KITopen-ID: 1000086337
Erschienen in 2018 Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, MetroInd 4.0 and IoT 2018; Brescia; Italy; 16 April 2018 through 18 April 2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 52-57
Nachgewiesen in Dimensions
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