Inspection Planning for Optimized Coverage of Geometrically Complex Surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR) Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-2497-5 KITopen-ID: 1000086337 |
| Erschienen in | 2018 Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, MetroInd 4.0 and IoT 2018; Brescia; Italy; 16 April 2018 through 18 April 2018 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 52-57 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |