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Sensor-realistic simulation of images in diffraction-limited imaging systems

Mohammadikaji, M. 1; Bergmann, S. 1; Burke, J.; Beyerer, J. 1; Dachsbacher, C. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 0178-2312, 0340-837X
KITopen-ID: 1000086482
Erschienen in Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 85
Heft s1
Seiten S95-S102
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