KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Sensor-realistic simulation of images in diffraction-limited imaging systems

Mohammadikaji, M.; Bergmann, S.; Burke, J.; Beyerer, J.; Dachsbacher, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 0178-2312, 0340-837X
KITopen ID: 1000086482
Erschienen in Technisches Messen
Band 85
Heft s1
Seiten S95-S102
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page