In situ Load- Pull MMIC for Large-Signal Characterization of mHEMT Devices at Submillimeter- Wave Frequencies
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-5067-7 ISSN: 0149-645X KITopen-ID: 1000086589 |
| Erschienen in | 2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2018; Philadelphia; United States; 10 June 2018 through 15 June 2018 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 761-764 |
| Serie | IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest ; 2018-June |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |