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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MWSYM.2018.8439391

In situ Load- Pull MMIC for Large-Signal Characterization of mHEMT Devices at Submillimeter- Wave Frequencies

John, L.; Ohlrogge, M.; Wagner, S.; Friesicke, C.; Tessmann, A.; Leuther, A.; Zwick, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5067-7
ISSN: 0149-645X
KITopen ID: 1000086589
Erschienen in 2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2018; Philadelphia; United States; 10 June 2018 through 15 June 2018
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 761-764
Serie IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest ; 2018-June
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