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Model-based validation and testing of industry 4.0 plants

Glock, Thomas; Sillman, Bjorn; Kobold, Max; Rebmann, Sebatian; Sax, Eric


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/SYSCON.2018.8369563
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Zitationen: 11
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Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-3664-0
KITopen-ID: 1000086674
Erschienen in 2018 Annual IEEE International Systems Conference (SysCon), Vancouver, CDN, April 23-26, 2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–8
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