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Die technische Zeichnung und ihr Kehrbild. Punkt und Linie aus philosophischer Sicht

Ommeln, Miriam

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000086918
Veröffentlicht am 24.10.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Philosophie (PHIL)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 2018
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 2194-1629
urn:nbn:de:swb:90-869180
KITopen-ID: 1000086918
Verlag KIT, Karlsruhe
Umfang 20 S.
Serie KIT Scientific Working Papers ; 102
Bemerkung zur Veröffentlichung Beitrag auf der Tagung Bild und Negativität, 4.-6.4.2018, Universität Erlangen-Nürnberg
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