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Methodischer Ansatz zur Bewertung und Auswahl einer Validierungsumgebung [in press]

Yan, Steven; Nickel, David; Behrendt, Matthias; Albers, Albert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000087492
Erschienen in 29. DfX-Symposium, Tutzing, Germany, 25.- 26. September 2018. Hrsg.: D. Krause
Verlag Tutech Verlag, Hamburg
Seiten 12
Serie 29
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