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Das Systemverständnis reflektieren – Kritisches Hinterfragen als Einflussgröße in der Analyse

Matthiesen, Sven; Eisenmann, Matthias; Döllken, Markus



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000087500
Erschienen in 29. DfX-Symposium 2018, Tutzing, 25.-26. September 2018. Hrsg.: D. Krause
Seiten 12
Serie 29
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