Das Systemverständnis reflektieren – Kritisches Hinterfragen als Einflussgröße in der Analyse
Matthiesen, Sven; Eisenmann, Matthias
; Döllken, Markus
; Döllken, Markus
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000087500 |
| Erschienen in | 29. DfX-Symposium 2018, Tutzing, 25.-26. September 2018. Hrsg.: D. Krause |
| Seiten | 12 |
| Serie | 29 |