X-ray topo-tomography studies of linear dislocations in silicon single crystals
Asadchikov, Victor; Buzmakov, Alexey; Chukhovskii, Felix; Dyachkova, Irina; Zolotov, Denis; Danilewsky, Andreas; Baumbach, Tilo 1,2; Bode, Simon 1; Haaga, Simon 2; Hänschke, Daniel 2; Kabukcuoglu, Merve
2; Balzer, Matthias 3; Caselle, Michele 3; Suvorov, Ernest
1 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Balzer, Matthias 3; Caselle, Michele 3; Suvorov, Ernest1 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1600-5767 KITopen-ID: 1000087726 |
| HGF-Programm | 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol. |
| Erschienen in | Journal of applied crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 51 |
| Heft | 6 |
| Vorab online veröffentlicht am | 01.11.2018 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |