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X-ray topo-tomography studies of linear dislocations in silicon single crystals

Asadchikov, Victor; Buzmakov, Alexey; Chukhovskii, Felix; Dyachkova, Irina; Zolotov, Denis; Danilewsky, Andreas; Baumbach, Tilo; Bode, Simon; Haaga, Simon; Hänschke, Daniel; Kabukcuoglu, Merve; Balzer, Matthias; Caselle, Michele; Suvorov, Ernest



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seit 24.11.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1600-5767
KITopen-ID: 1000087726
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01)
Erschienen in Journal of applied crystallography
Band 51
Heft 6
Vorab online veröffentlicht am 01.11.2018
Nachgewiesen in Scopus
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