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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000087734
Veröffentlicht am 22.11.2018

Best Practices in Deep Learning-Based Segmentation of Microscopy Images

Scherr, Tim; Bartschat, Andreas; Reischl, Markus; Stegmaier, Johannes; Mikut, Ralf



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0845-8
URN: urn:nbn:de:swb:90-877347
KITopen-ID: 1000087734
Erschienen in Proceedings - 28. Workshop Computational Intelligence, Dortmund, 29. - 30. November 2018. Ed.: F. Hoffmann
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 175 - 195
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