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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IOLTS.2018.8474272

Reliability and Performance Challenges of Ultra-Low Voltage Caches: A Trade-Off Analysis

Gebregiorgis, A.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5992-2
KITopen-ID: 1000087759
Erschienen in 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2018; Platja D'Aro; Spain; 2 July 2018 through 4 July 2018. Ed.: M. Maniatakos
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 265-268
Nachgewiesen in Scopus
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