KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Reliability and Performance Challenges of Ultra-Low Voltage Caches: A Trade-Off Analysis

Gebregiorgis, A. 1; Tahoori, M. B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IOLTS.2018.8474272
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5992-2
KITopen-ID: 1000087759
Erschienen in 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2018; Platja D'Aro; Spain; 2 July 2018 through 4 July 2018. Ed.: M. Maniatakos
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 265-268
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page