Reliability and Performance Challenges of Ultra-Low Voltage Caches: A Trade-Off Analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-5992-2 KITopen-ID: 1000087759 |
| Erschienen in | 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2018; Platja D'Aro; Spain; 2 July 2018 through 4 July 2018. Ed.: M. Maniatakos |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 265-268 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |