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Teepee - A triple pattern fragment profiler visualization tool

Heling, Lars; Acosta, Maribel



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1613-0073
KITopen-ID: 1000087831
Erschienen in 2018 ISWC Posters and Demonstrations, Industry and Blue Sky Ideas Tracks, Monterey, United States, 8 October through 12 October 2018
Verlag Sun SITE Central Europe, Aachen
Serie CEUR Workshop Proceedings ; 2180
Nachgewiesen in Scopus
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