Teepee - A triple pattern fragment profiler visualization tool
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1613-0073 KITopen-ID: 1000087831 |
| Erschienen in | 2018 ISWC Posters and Demonstrations, Industry and Blue Sky Ideas Tracks, Monterey, United States, 8 October through 12 October 2018 |
| Verlag | Sun SITE Central Europe |
| Serie | CEUR Workshop Proceedings ; 2180 |
| Nachgewiesen in | Scopus |