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Charging of electron beam irradiated amorphous carbon thin films at liquid nitrogen temperature

Hettler, S. 1; Onoda, J.; Wolkow, R.; Pitters, J.; Malac, M.
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.10.010
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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen-ID: 1000087857
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 196
Seiten 161-166
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