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Dual-mode phase and fluorescence imaging with a confocal laser scanning microscope

Zheng, J.; Zuo, C.; Gao, P.; Ulrich Nienhaus, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0146-9592, 1071-2763, 1071-8842, 1539-4794
KITopen-ID: 1000087863
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in Optics letters
Band 43
Heft 22
Seiten 5689-5692
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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