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Dual-mode phase and fluorescence imaging with a confocal laser scanning microscope

Zheng, J.; Zuo, C.; Gao, P. 1,2; Ulrich Nienhaus, G. ORCID iD icon 1,2,3
1 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Toxikologie und Genetik (ITG), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OL.43.005689
Scopus
Zitationen: 14
Web of Science
Zitationen: 12
Dimensions
Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0146-9592, 1071-2763, 1071-8842, 1539-4794
KITopen-ID: 1000087863
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Optics letters
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 43
Heft 22
Seiten 5689-5692
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
Web of Science
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