KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Dual-mode phase and fluorescence imaging with a confocal laser scanning microscope

Zheng, J.; Zuo, C.; Gao, P.; Ulrich Nienhaus, G.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OL.43.005689
Scopus
Zitationen: 9
Web of Science
Zitationen: 9
Dimensions
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Toxikologie und Genetik (ITG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0146-9592, 1071-2763, 1071-8842, 1539-4794
KITopen-ID: 1000087863
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Optics letters
Verlag The Optical Society of America (OSA)
Band 43
Heft 22
Seiten 5689-5692
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page