KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Characterization of a novel pixelated Silicon Drift Detector (PixDD) for high-throughput X-ray astrophysics

Evangelista, Y.; Ambrosino, F.; Feroci, M.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Campana, R.; Caselle, Michele 1; Cirrincione, D.; Ficorella, F.; Fiorini, M.; Fuschino, F.; Gandola, M.; Grassi, M.; Labanti, C.; Malcovati, P.; Mele, F.; Morbidini, A.; Picciotto, A.; ... mehr


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/13/09/P09011
Scopus
Zitationen: 14
Web of Science
Zitationen: 12
Dimensions
Zitationen: 24
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000087914
HGF-Programm 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 13
Heft 9
Seiten P09011
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page