Characterization of a novel pixelated Silicon Drift Detector (PixDD) for high-throughput X-ray astrophysics

Evangelista, Y.; Ambrosino, F.; Feroci, M.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Campana, R.; Caselle, Michele; Cirrincione, D.; Ficorella, F.; Fiorini, M.; Fuschino, F.; Gandola, M.; Grassi, M.; Labanti, C.; Malcovati, P.; Mele, F.; Morbidini, A.; Picciotto, A.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Sammartini, M.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zorzi, N.; Vacchi, A.

doi:10.1088/1748-0221/13/09/P09011

Characterization of a novel pixelated Silicon Drift Detector (PixDD) for high-throughput X-ray astrophysics

Evangelista, Y.; Ambrosino, F.; Feroci, M.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Campana, R.; Caselle, Michele ¹; Cirrincione, D.; Ficorella, F.; Fiorini, M.; Fuschino, F.; Gandola, M.; Grassi, M.; Labanti, C.; Malcovati, P.; Mele, F.; Morbidini, A.; Picciotto, A.; ... mehr

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2018
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000087914
HGF-Programm	54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung
Erschienen in	Journal of Instrumentation
Verlag	Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band	13
Heft	9
Seiten	P09011
Nachgewiesen in	Web of Science OpenAlex Dimensions Scopus
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung

Repository KITopen

Characterization of a novel pixelated Silicon Drift Detector (PixDD) for high-throughput X-ray astrophysics