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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/13/09/P09011

Characterization of a novel pixelated Silicon Drift Detector (PixDD) for high-throughput X-ray astrophysics

Evangelista, Y.; Ambrosino, F.; Feroci, M.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Campana, R.; Caselle, Michele; Cirrincione, D.; Ficorella, F.; Fiorini, M.; Fuschino, F.; Gandola, M.; Grassi, M.; Labanti, C.; Malcovati, P.; Mele, F.; Morbidini, A.; Picciotto, A.; Rachevski, A.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000087914
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 13
Heft 9
Seiten P09011
Nachgewiesen in Scopus
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