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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRMMW-THz.2018.8510080

Long-Term Turn-by-Turn Measurements of Electron Bunch Profiles at MHz Repetition Rates in a Storage Ring with Single-Shot Electro-Optical Sampling

Funkner, S.; Brosi, M.; Bründermann, E.; Caselle, M.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Rota, L.; Schönfeldt, P.; Weber, M.; Müller, A.-S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-153863809-5
KITopen ID: 1000088013
HGF-Programm 54.01.01; LK 01
Erschienen in 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya, Japan, 9th-14th September 2018
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 1-2
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