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Long-Term Turn-by-Turn Measurements of Electron Bunch Profiles at MHz Repetition Rates in a Storage Ring with Single-Shot Electro-Optical Sampling

Funkner, S. 1; Brosi, M. 1; Bründermann, E. ORCID iD icon; Caselle, M. 2; Nasse, M. J. 3; Niehues, G. 3; Rota, L. 2; Schönfeldt, P.; Weber, M. 2; Müller, A.-S.
1 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-153863809-5
KITopen-ID: 1000088013
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya, Japan, 9th-14th September 2018
Veranstaltung 43rd International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya, Japan, 09.09.2018 – 14.09.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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