Turn-by-Turn Measurements for Systematic Investigations of the Micro-Bunching Instability
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Jahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9545020-6-6 URN: urn:nbn:de:swb:90-880399 KITopen ID: 1000088039 |
| HGF-Programm | 54.01.01; LK 01 |
| Erschienen in | FLS2018 : the 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop : Shanghai Institute of Applied Physics, March 5-9, 2018. Ed. board: Yong Ho Chin, Zhentang Zhao, Christine Petit-Jean-Genaz, Volker Schaa |
| Verlag | CERN, Genf |
| Seiten | 46–51 |
| Projektinformation | 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA) |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | The work was presented by invited speaker J.L. Steinmann. |