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Turn-by-Turn Measurements for Systematic Investigations of the Micro-Bunching Instability

Steinmann, J. L. ORCID iD icon 1; Brosi, M. 1; Bründermann, Erik ORCID iD icon 1; Caselle, M. 1; Funkner, S. 1; Kehrer, B. 1; Nasse, M. J. 1; Niehues, G. 1; Rota, L. 1; P. Schönfeldt; Schuh, M. ORCID iD icon 1; Siegel, M. 1; Weber, M. 1; Müller, A.-S. ORCID iD icon
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000088039
Veröffentlicht am 03.12.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.18429/JACoW-FLS2018-TUP2WD03
Scopus
Zitationen: 1
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9545020-6-6
urn:nbn:de:swb:90-880399
KITopen-ID: 1000088039
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in FLS2018 : the 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop : Shanghai Institute of Applied Physics, March 5-9, 2018. Ed. board: Yong Ho Chin, Zhentang Zhao, Christine Petit-Jean-Genaz, Volker Schaa
Veranstaltung 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop (FLS 2018), Shanghai, China, 05.03.2018 – 09.03.2018
Verlag JACoW Publishing
Seiten 46–51
Projektinformation 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA)
Bemerkung zur Veröffentlichung The work was presented by invited speaker J.L. Steinmann.
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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