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Turn-by-Turn Measurements for Systematic Investigations of the Micro-Bunching Instability

Steinmann, J. L.; Brosi, M.; Bründermann, Erik; Caselle, M.; Funkner, S.; Kehrer, B.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Rota, L.; P. Schönfeldt; Schuh, M.; Siegel, M.; Weber, M.; Müller, A.-S.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000088039
Veröffentlicht am 03.12.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.18429/JACoW-FLS2018-TUP2WD03
Seitenaufrufe: 55
seit 04.12.2018
Downloads: 10
seit 04.12.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9545020-6-6
urn:nbn:de:swb:90-880399
KITopen-ID: 1000088039
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01)
Erschienen in FLS2018 : the 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop : Shanghai Institute of Applied Physics, March 5-9, 2018. Ed. board: Yong Ho Chin, Zhentang Zhao, Christine Petit-Jean-Genaz, Volker Schaa
Verlag CERN, Genf
Seiten 46–51
Projektinformation 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA)
Bemerkung zur Veröffentlichung The work was presented by invited speaker J.L. Steinmann.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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