KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Open Access Logo
§
Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000088039
Veröffentlicht am 03.12.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.18429/JACoW-FLS2018-TUP2WD03

Turn-by-Turn Measurements for Systematic Investigations of the Micro-Bunching Instability

Steinmann, J. L.; Brosi, M.; Bründermann, Erik; Caselle, M.; Funkner, S.; Kehrer, B.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Rota, L.; P. Schönfeldt; Schuh, M.; Siegel, M.; Weber, M.; Müller, A.-S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9545020-6-6
URN: urn:nbn:de:swb:90-880399
KITopen ID: 1000088039
HGF-Programm 54.01.01; LK 01
Erschienen in FLS2018 : the 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop : Shanghai Institute of Applied Physics, March 5-9, 2018. Ed. board: Yong Ho Chin, Zhentang Zhao, Christine Petit-Jean-Genaz, Volker Schaa
Verlag CERN, Genf
Seiten 46–51
Projektinformation 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA)
Bemerkung zur Veröffentlichung The work was presented by invited speaker J.L. Steinmann.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page