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Turn-by-Turn Measurements for Systematic Investigations of the Micro-Bunching Instability

Steinmann, J. L.; Brosi, M.; E. Bründermann; Caselle, M.; Funkner, S.; Kehrer, B.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Rota, L.; P. Schönfeldt; Schuh, M.; Siegel, M.; Weber, M.; Müller, A.-S.

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seit 01.12.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000088040
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01)
Veranstaltung 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop (FLS’18), Shanghai, China, 5-9 March 2018
Projektinformation 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA)
Externe Relationen Siehe auch
Siehe auch
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