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Technology assessment in a globalized world

Scherz, Constanze; Hahn, Julia; Ladikas, Miltos



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000088071
HGF-Programm 48.01.02 (POF III, LK 01)
Veranstaltung 15th International Conference on Multidisciplinary Aspects of Production Engineering (MAPE 2018), Zawiercie, PL, September 5-8, 2018
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