Spectroscopie de Photoélectrons (XPS) associée à la Spectrométrie de Masse (ToF-SIMS): Caractérisation et Imagerie de Surfaces Fonctionnalisées
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Französisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000088182 |
| HGF-Programm | 49.02.06 (POF III, LK 02) ToF-SIMS |
| Weitere HGF-Programme | 49.02.07 (POF III, LK 02) XPS |
| Veranstaltung | 8eme Conférence Francophone sur les Spectroscopies d’Électrons (ELSPEC'2018), Biarriz, F, 5-8 Juin, 2018 |