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Spectroscopie de Photoélectrons (XPS) associée à la Spectrométrie de Masse (ToF-SIMS): Caractérisation et Imagerie de Surfaces Fonctionnalisées

Trouillet, Vanessa



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2018
Sprache Französisch
Identifikator KITopen ID: 1000088182
HGF-Programm 49.02.06; LK 02
Erschienen in 8eme Conférence Francophone sur les Spectroscopies d’Électrons (ELSPEC'2018), Biarriz, F, 5-8 Juin, 2018
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