THZ QCL/KID based polarimeter for plasma diagnostics
Mazzocchi, F.
; Driessen, E. F. C.; Shu, S.; Grossetti, G.; Strauß, D.; Scherer, T.
; Driessen, E. F. C.; Shu, S.; Grossetti, G.; Strauß, D.; Scherer, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000088911 |
| HGF-Programm | 31.03.05 (POF III, LK 01) Port- und Plant Engineering |
| Veranstaltung | US-EU-Japan RF Heating Technology Workshop and US-Japan Workshop on RF Heating Physics (2018), Shizuoka, Japan, 04.09.2018 – 07.09.2018 |