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Fast high-precision distance metrology using a pair of modulator-generated dual-color frequency combs

Weimann, C.; Messner, A.; Baumgartner, T.; Wolf, S.; Hoeller, F.; Freude, W.; Koos, C.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000089081
Veröffentlicht am 25.01.2019
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
urn:nbn:de:swb:90-890819
KITopen-ID: 1000089081
HGF-Programm 43.23.03 (POF III, LK 01)
Erschienen in Optics express
Band 26
Heft 26
Seiten 34305-34335
Vorab online veröffentlicht am 18.12.2018
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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