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Fast high-precision distance metrology using a pair of modulator-generated dual-color frequency combs

Weimann, C. 1,2; Messner, A. 2; Baumgartner, T. 2; Wolf, S. 2; Hoeller, F.; Freude, W. 1,2; Koos, C. 1,2
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000089081
Veröffentlicht am 25.01.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.26.034305
Scopus
Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 7
Dimensions
Zitationen: 6
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
urn:nbn:de:swb:90-890819
KITopen-ID: 1000089081
HGF-Programm 43.23.03 (POF III, LK 01) Teratronics
Erschienen in Optics express
Verlag The Optical Society of America (OSA)
Band 26
Heft 26
Seiten 34305-34335
Vorab online veröffentlicht am 18.12.2018
Nachgewiesen in Scopus
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