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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.patcog.2018.12.002

Improving classification with semi-supervised and fine-grained learning

Lai, D.; Tian, Wei; Chen, L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-3203, 1873-5142
KITopen-ID: 1000089185
Erschienen in Pattern recognition
Band 88
Seiten 547-556
Nachgewiesen in Scopus
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