Improving classification with semi-supervised and fine-grained learning

Lai, D.; Tian, Wei ¹; Chen, L.
¹ Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.patcog.2018.12.002

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0031-3203, 1873-5142 KITopen-ID: 1000089185
Erschienen in	Pattern recognition
Verlag	Elsevier
Band	88
Seiten	547-556
Nachgewiesen in	Dimensions OpenAlex Web of Science Scopus
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