X-ray zoom lens allows for energy scans in X-ray microscopy

Kornemann, E. ¹; Zhou, T.; Márkus, O. ¹; Opolka, A.

¹; Schülli, T. U.; Mohr, J. ¹; Last, A.

¹
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000089206

Veröffentlicht am 25.01.2019

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.27.000185

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	01.2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1094-4087 urn:nbn:de:swb:90-892067 KITopen-ID: 1000089206
HGF-Programm	43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Erschienen in	Optics express
Verlag	Optica Publishing Group (OSA)
Band	27
Heft	1
Seiten	185-195
Vorab online veröffentlicht am	03.01.2019
Schlagwörter	Proposal-Nummer: 2017-017-017049, Technologien: EBL, XRL
Nachgewiesen in	OpenAlex Scopus Web of Science Dimensions
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung