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X-ray zoom lens allows for energy scans in X-ray microscopy

Kornemann, E. 1; Zhou, T.; Márkus, O. 1; Opolka, A. 1; Schülli, T. U.; Mohr, J. 1; Last, A. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000089206
Veröffentlicht am 25.01.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.27.000185
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Zitationen: 2
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Zitationen: 1
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
urn:nbn:de:swb:90-892067
KITopen-ID: 1000089206
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Erschienen in Optics express
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 27
Heft 1
Seiten 185-195
Vorab online veröffentlicht am 03.01.2019
Schlagwörter Proposal-Nummer: 2017-017-017049 Technologien: EBL, XRL
Nachgewiesen in Dimensions
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