X-ray zoom lens allows for energy scans in X-ray microscopy
Kornemann, E. 1; Zhou, T.; Márkus, O. 1; Opolka, A.
1; Schülli, T. U.; Mohr, J. 1; Last, A. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Schülli, T. U.; Mohr, J. 1; Last, A. 11 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 01.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1094-4087 urn:nbn:de:swb:90-892067 KITopen-ID: 1000089206 |
| HGF-Programm | 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics |
| Erschienen in | Optics express |
| Verlag | Optica Publishing Group (OSA) |
| Band | 27 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 185-195 |
| Vorab online veröffentlicht am | 03.01.2019 |
| Schlagwörter | Proposal-Nummer: 2017-017-017049, Technologien: EBL, XRL |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |