X-ray zoom lens allows for energy scans in X-ray microscopy

Kornemann, E.; Zhou, T.; Márkus, O.; Opolka, A.; Schülli, T. U.; Mohr, J.; Last, A.

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000089206

Veröffentlicht am 25.01.2019

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.27.000185

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1094-4087 urn:nbn:de:swb:90-892067 KITopen-ID: 1000089206
HGF-Programm	43.23.02 (POF III, LK 01)
Erschienen in	Optics express
Band	27
Heft	1
Seiten	185-195
Vorab online veröffentlicht am	03.01.2019
Schlagworte	Proposal-Nummer: 2017-017-017049 Technologien: EBL, XRL