X-ray zoom lens allows for energy scans in X-ray microscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Jahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1094-4087 URN: urn:nbn:de:swb:90-892067 KITopen-ID: 1000089206 |
| HGF-Programm | 43.23.02 (POF III, LK 01) |
| Erschienen in | Optics express |
| Band | 27 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 185-195 |
| Vorab online veröffentlicht am | 03.01.2019 |
| Schlagworte | Proposal-Nummer: 2017-017-017049 Technologien: EBL, XRL |