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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000089206
Veröffentlicht am 25.01.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.27.000185

X-ray zoom lens allows for energy scans in X-ray microscopy

Kornemann, E.; Zhou, T.; Márkus, O.; Opolka, A.; Schülli, T. U.; Mohr, J.; Last, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
URN: urn:nbn:de:swb:90-892067
KITopen-ID: 1000089206
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01)
Erschienen in Optics express
Band 27
Heft 1
Seiten 185-195
Vorab online veröffentlicht am 03.01.2019
Schlagworte Proposal-Nummer: 2017-017-017049 Technologien: EBL, XRL
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