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Novel method to study strain effect of thin films using a piezoelectric-based device and a flexible metallic substrate

Iida, Kazumasa; Sugimoto, Yuwa; Hatano, Takafumi; Urata, Takahiro; Langer, Marco 1; Holzapfel, Bernhard ORCID iD icon 1; Hänisch, Jens ORCID iD icon 1; Ikuta, Hiroshi
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.7567/1882-0786/aaf6e6
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1882-0778, 1882-0786
KITopen-ID: 1000089522
HGF-Programm 37.06.02 (POF III, LK 01) New Power Network Technology
Erschienen in Applied physics express
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 12
Heft 1
Seiten 016503
Vorab online veröffentlicht am 04.01.2019
Nachgewiesen in Scopus
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