X-ray Diffraction Analysis of the Angular Stability of Self-Catalyzed GaAs Nanowires for Future Applications in Solar-Light-Harvesting and Light-Emission Devices

Mostafavi Kashani, Seyed Mohammad; Kriegner, Dominik; Bahrami, Danial; Vogel, Jonas; Davtyan, Arman; Feigl, Ludwig; Schroth, Philipp; Jakob, Julian; Baumbach, Tilo; Pietsch, Ullrich

doi:10.1021/acsanm.8b01677

X-ray Diffraction Analysis of the Angular Stability of Self-Catalyzed GaAs Nanowires for Future Applications in Solar-Light-Harvesting and Light-Emission Devices

Mostafavi Kashani, Seyed Mohammad; Kriegner, Dominik; Bahrami, Danial; Vogel, Jonas; Davtyan, Arman; Feigl, Ludwig ¹; Schroth, Philipp ¹^,2; Jakob, Julian ¹^,2; Baumbach, Tilo ¹^,2; Pietsch, Ullrich
¹ Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1021/acsanm.8b01677

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2574-0970, 2574-0970 KITopen-ID: 1000089766
HGF-Programm	56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Erschienen in	ACS applied nano materials
Verlag	American Chemical Society (ACS)
Band	2
Heft	2
Seiten	689-699
Vorab online veröffentlicht am	08.01.2019
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus Web of Science

Repository KITopen

X-ray Diffraction Analysis of the Angular Stability of Self-Catalyzed GaAs Nanowires for Future Applications in Solar-Light-Harvesting and Light-Emission Devices