KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

An Experimental Evaluation and Analysis of Transient Voltage Fluctuations in FPGAs

Gnad, Dennis R. E.; Oboril, Fabian; Kiamehr, Saman; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2018.2848460
Scopus
Zitationen: 10
Web of Science
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000089803
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 26
Heft 10
Seiten 1817–1830
Vorab online veröffentlicht am 12.07.2018
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page