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An Experimental Evaluation and Analysis of Transient Voltage Fluctuations in FPGAs

Gnad, Dennis R. E.; Oboril, Fabian; Kiamehr, Saman; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000089803
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Band 26
Heft 10
Seiten 1817–1830
Vorab online veröffentlicht am 12.07.2018
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