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Workload-Aware Static Aging Monitoring and Mitigation of Timing-Critical Flip-Flops

Vijayan, Arunkumar 1; Kiamehr, Saman 1; Oboril, Fabian 1; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2017.2778254
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Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000089828
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 37
Heft 10
Seiten 2098–2110
Nachgewiesen in Dimensions
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