KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Workload-Aware Static Aging Monitoring and Mitigation of Timing-Critical Flip-Flops

Vijayan, Arunkumar; Kiamehr, Saman; Oboril, Fabian; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2017.2778254
Scopus
Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000089828
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 37
Heft 10
Seiten 2098–2110
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page