Modified laser-induced fluorescence-dip spectroscopy in Xenon for measuring a weak electric field distribution at the edge of electron emission plasma
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000089948 |
| HGF-Programm | 35.12.02 (POF III, LK 01) Flüssigmetall-Materialforschung |
| Veranstaltung | 6th ITG International Vacuum Electronics Workshop (2018), Bad Honnef, Deutschland, 05.09.2018 – 07.09.2018 |