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Modified laser-induced fluorescence-dip spectroscopy in Xenon for measuring a weak electric field distribution at the edge of electron emission plasma

Wang, Zhen; An, Wladimir; Müller, Georg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000089948
HGF-Programm 35.12.02 (POF III, LK 01)
Veranstaltung 6th ITG International Vacuum Electronics Workshop (2018), Bad Honnef, Deutschland, 05.09.2018 – 07.09.2018
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