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Automated Assessment of E/E-Architecture Variants Using an Integrated Model- and Simulation-Based Approach [in press]

Bucher, H.; Neubauer, K.; Becker, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0148-7191
KITopen-ID: 1000089979
Erschienen in WCX SAE World Congress Experience, Detroit, USA, April 9-11 2019
Verlag SAE International, Warrendale (PA)
Serie SAE Technical Paper ; 2019-01-0111
Schlagworte Systems Engineering, Design Processes, Simulation and Modeling, E/E-Architecture, Hardware, Tools and Equipment
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