Charge Transport in Low-Temperature Processed Thin-Film Transistors Based on Indium Oxide/Zinc Oxide Heterostructures
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1944-8244, 1944-8252 KITopen-ID: 1000090621 |
| HGF-Programm | 49.02.01 (POF III, LK 02) INT-KNMF Characterisation Lab |
| Erschienen in | ACS applied materials & interfaces |
| Verlag | American Chemical Society (ACS) |
| Band | 10 |
| Heft | 24 |
| Seiten | 20661–20671 |
| Vorab online veröffentlicht am | 11.06.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |