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Optical and Electrical Investigation of High-Current Arcing Modes and Correlation with Contact Microstructure after Single Current Interruption

Feilbach, A.; Hinrichsen, V.; Hauf, Ulla; Heilmaier, Martin; Boening, M.; Mueller, F. E. H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DEIV.2018.8537042
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-4373-0
KITopen-ID: 1000090822
Erschienen in Proceedings of the 28th International Symposium on Discharges and Electrical Insulation in Vacuum: Greifswald, Germany, 23rd-28th September 2018. Volume 2.
Veranstaltung 28th International Symposium on Discharges and Electrical Insulation in Vacuum (ISDEIV 2018), Greifswald, Deutschland, 23.09.2018 – 28.09.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Seiten 169-172
Nachgewiesen in Scopus
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