Classification in High-Dimensional Feature Spaces – Assessment Using SVM, IVM and RVM With Focus on Simulated EnMAP Data
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1939-1404, 2151-1535 KITopen-ID: 1000090943 |
| Erschienen in | IEEE journal of selected topics in applied earth observations and remote sensing |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 5 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 436 - 443 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |