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Classification in High-Dimensional Feature Spaces – Assessment Using SVM, IVM and RVM With Focus on Simulated EnMAP Data

Braun, A. C.; Weidner, U.; Hinz, S.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/JSTARS.2012.2190266
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1939-1404, 2151-1535
KITopen-ID: 1000090943
Erschienen in IEEE journal of selected topics in applied earth observations and remote sensing
Band 5
Heft 2
Seiten 436 - 443
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