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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WiPDA.2018.8569047

On Integrating Non-Intrusive Current Measurement into GaN Power Modules

Lauer, A.; Nibir, S. J.; Biglarbegian, M.; Hiller, M.; Parkhideh, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5909-0
KITopen-ID: 1000090993
Erschienen in 6th Annual IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications, WiPDA 2018; Atlanta; United States; 31 October 2018 through 2 November 2018
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 279-286
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