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On Integrating Non-Intrusive Current Measurement into GaN Power Modules

Lauer, A. 1; Nibir, S. J.; Biglarbegian, M.; Hiller, Marc 1; Parkhideh, B.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WiPDA.2018.8569047
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Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-5909-0
KITopen-ID: 1000090993
Erschienen in 6th Annual IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications, WiPDA 2018; Atlanta; United States; 31 October 2018 through 2 November 2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 279-286
Nachgewiesen in Dimensions
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