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Scanning cavity microscopy of semiconducting SWCNTs

Moosmayer, Thea; Hümmer, Thomas; Hennrich, Frank; Krupke, Ralph; Hunger, David



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Poster
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000091035
Veranstaltung 83. Jahrestagung der DPG und DPG-Frühjahrstagung der Sektion Atome, Moleküle, Quantenoptik und Plasmen (SAMOP), Fachverband Quantenoptik und Photonik (2019), Rostock, Deutschland, 10.03.2019 – 15.03.2019
Bemerkung zur Veröffentlichung Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.54(2019) Q 24.9
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