Optimal Gaussian measurements for phase estimation in single-mode Gaussian metrology
Oh, Changhun; Lee, Changhyoup 1; Rockstuhl, Carsten
1,2; Jeong, Hyunseok; Kim, Jaewan; Nha, Hyunchul; Lee, Su-Yong
1 Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2; Jeong, Hyunseok; Kim, Jaewan; Nha, Hyunchul; Lee, Su-Yong1 Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Festkörperphysik (IFP) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2056-6387 urn:nbn:de:swb:90-910933 KITopen-ID: 1000091093 |
| HGF-Programm | 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy |
| Erschienen in | npj Quantum information |
| Verlag | Nature Research |
| Band | 5 |
| Heft | 1 |
| Seiten | Article no 10 |
| Vorab online veröffentlicht am | 28.01.2019 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |