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Optimal Gaussian measurements for phase estimation in single-mode Gaussian metrology

Oh, Changhun; Lee, Changhyoup 1; Rockstuhl, Carsten 1,2; Jeong, Hyunseok; Kim, Jaewan; Nha, Hyunchul; Lee, Su-Yong
1 Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000091093
Veröffentlicht am 15.02.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1038/s41534-019-0124-4
Scopus
Zitationen: 55
Web of Science
Zitationen: 52
Dimensions
Zitationen: 60
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2056-6387
urn:nbn:de:swb:90-910933
KITopen-ID: 1000091093
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in npj Quantum information
Verlag Nature Research
Band 5
Heft 1
Seiten Article no 10
Vorab online veröffentlicht am 28.01.2019
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
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