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A new characterization of the Gamma distribution and associated goodness-of-fit tests

Betsch, S. 1; Ebner, B. 1
1 Institut für Stochastik (STOCH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00184-019-00708-7
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Zitationen: 24
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Stochastik (STOCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0026-1335, 1435-926X
KITopen-ID: 1000091137
Erschienen in Metrika
Verlag Springer
Band 82
Heft 7
Seiten 779-806
Nachgewiesen in Dimensions
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