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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00184-019-00708-7

A new characterization of the Gamma distribution and associated goodness-of-fit tests [in press]

Betsch, S.; Ebner, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Stochastik (STOCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0026-1335, 1435-926X
KITopen-ID: 1000091137
Erschienen in Metrika
Nachgewiesen in Scopus
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