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Studie zur Strahlenhärte von n-in-p Siliziumstreifensensoren ohne spezifische Zwischenstreifenisolationsstruktur

Müller, Thomas; Dierlamm, Alexander; Metzler, Marius; Gosewisch, Jan-Ole; Simonis, Hans-Jürgen; Steck, Pia; Bögelspacher, Felix



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2019
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000091375
Veranstaltung DPG-Frühjahrstagung, Fachverband Teilchenphysik (2019), Aachen, Deutschland, 25.03.2019 – 29.03.2019
Bemerkung zur Veröffentlichung Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.54(2019) T 2.5
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